計測機器
原子間力顕微鏡― システム

• 原子間力顕微鏡およびラマン分光法のシームレスな統合
• 材料とライフ サイエンスで最も使いやすいスペクトロスコピー用 AFM
• 最高の性能と完全な機能を備えた AFM

• TERS 対応の AFM ラマン システム インテグレーション
• 特有のアプリケーションに焦点を当てた真のナノスケール スペクトロスコピー

• 最もお得な価格のクローズド・ループ採用 Dimension AFM
  
• 正確で高解像度の結果を、これまでより高速に取得
  

• あらゆる用途、あらゆる試料向けのソリューション
  
• 初心者/エキスパートを問わず利用可能な先進的ナノスケール機能
  

• 最高のパフォーマンスと分解能
• より多くのアプリケーションに対応する多機能性

• エキスパート レベルの結果をより早く、より簡単に
• 世界に名高い生産性と信頼性

• 原子間力顕微鏡と光顕微鏡の統合を新たな次元で確立
• 両技術による妥協のないパフォーマンス

• 最も使いやすく、最も生産性の高い生命科学向け原子間力顕微鏡
• 生体試料用の、シンプルで効果的なソリューション

• 究極のパフォーマンス
• 研究レベルの品質の結果を迅速に実現

• エキスパート機能による使いやすさ
• 1つのプラットフォームで無限の可能性

特長：

• 専用 Whisper™ ピエゾ走査技術で、オープンループ型システムに匹敵する最高レベルのノイズレベルをクローズドループで実現します。
• 90 ミクロンから原子像まで完全対応
• 物理学、材料科学および生命科学のための、幅広い先進機能
• 新しいモードで素材およびデバイスの特性評価に対応

利点：

• より高いクローズドループ型パフォーマンスとは、最高分解能アプリケーションでも、常に最高精度のデータを取得することを意味します
• 高解像度の光学系によって、より高速でより高精度のプローブ・ポジショニングと、より短時間でより良質のデータ取得が可能になります
• 先進の走査型プローブ顕微鏡（SPM) モードは、研究で優れた柔軟性を実現します
• New： 半導体デバイスおよび太陽電池に関して、アーチファクトのない特性評価を行うためのダークリフト

特長：

• クローズドループ型およびセンサー付き Z ピエゾ スキャナーで、3軸で高精度実現
• コンパクトで使いやすい顕微鏡ヘッドは、ほとんどの環境に対応可能
• 試料サイズに制約を受けない走査探針の設計
• 走査、分析を同時に可能にする豊富な制御・分析ソフトウェア

利点：

• 高付加価値、低コストのエントリー レベルのAFM
• 研究レベルの結果を取得し、AFM を日々の研究ツールの一部に
• 磁気力顕微鏡法（MFM）、電気力顕微鏡法（EFM）およびナノリソグラフィー用に簡単に拡張可能

特長：

• 走査型プローブ顕微鏡（SPM） イメージングの標準/先進技術をサポート
• 半導体ウエハ、リソグラフィーマスク、磁気媒体、その他、最大直径 200mm までの試料の表面特性を測定するのに最適
• スキャナーおよびコントローラーの豊富なセレクション
• 正確なレーザー トラッキングおよび走査モード変更をツールなしで実現

利点：

• 試料サイズの利便性と柔軟性
• 強力な NanoScope コントローラーにより、最大スキャンサイズにおいても、16 ビットのフル分解能で数ナノメートル分解能
• Dimension DAFMLN低ノイズヘッドで、低ノイズ走査と優れた信頼性を実現

特長：

• 半導体、データストレージ、および工学へのアプリケーション向けの、信頼性の高い自動表面形状測定を実現
• 最大、直径350mmの試料を100エリアまで測定可能
• サンプル破壊、事前処理または修正は不要
• クローズドループとオープンループ走査ヘッドの両方で実現

利点：

• より短い時間で、非破壊でより多くの表面データを提供
• 表面断層を検出し、表面粗さおよびその他の特性を 3 次元測定
• 原子間力顕微鏡法および走査トンネル顕微鏡法技術を総合的にサポート

特長：

• 高分解能イメージング、高解像度ナノリソグラフィーおよびダイレクト ナノスケール マニピュレーション用の卓越したシステム
• ハイブリッド XYZ スキャナーにより、6 倍低い Z センサー ノイズと、分子マニピュレーションの正確な X/Y 制御を提供
• NanoScope V コントローラーで、高解像度画像 （5120 x 5120）で信頼性の高い高速データ キャプチャを実現

利点：

• より高い精度、より速い処理の、幅広い AFM と STM 技術をサポート
• 幅広いアプリケーションに対応するモジュラー設計
• Dimension プラットフォームと NanoScope V 機能の統合により、柔軟性、使いやすさ、高製品スループットを向上

特長：

• 高分解能イメージング、高解像度ナノリソグラフィーおよびダイレクト ナノスケール マニピュレーション用の卓越したシステム
• 実績のある Dimension プラットフォームと先進の NanoScope V コントローラー、および最新式ハイブリッド XYZ スキャナーを結合
• ハイブリッド XYZ スキャナーにより、6 倍低い Z センサー ノイズと、分子マニピュレーションの正確な X/Y 制御を提供

利点：

• 従来走査型プローブ顕微鏡（SPM）では不可能だったタイムスケールで、ナノスケール事象のチップサンプル（探針－試料間の）相互作用を記録および分析
• 高解像度画像(5120 x 5120）で高信頼性、高速(50 MHz)データキャプチャ
• 分子操作や走査したサンプリングなどの複雑な技術を向上させ、材料特性についてのより詳細な情報を提供

特長：

• 表面の特性評価に完全対応する AFM 技術
• コンパクトなハードウェア設計と、ユーザーフレンドリーなソフトウェアで、より高速・簡単なデータ取得が可能
• NanoScope コントローラーで、最大走査から数ナノメートルまで柔軟な走査範囲
• ヒーター/クーラーアクセサリー、環境チャンバー

利点：

• 競合する他のシステムすべてよりも多く、科学ジャーナルに掲載
• 1000以上のサイトでのパフォーマンス実績
• 複数のスキャナーで、研究者独自の研究目的に合わせたシステム作りが可能

特長：

• 幅広い電気化学処理の研究向けに、3つの強力な電気化学システムを提供
• 電気化学走査型トンネル顕微鏡 （ECSTM） により、電気化学制御下の溶液中の電極表面の原子/モジュラー分解能 STM イメージングを実現
• 電気化学原子間力顕微鏡 （ECAFM） で、電気化学制御下の溶液中で、ナノメートル分解能 AFM イメージングが実現
• 走査電気化学電位顕微鏡（SECPM）は、Veeco だけの技術を使い、電気二重層の電位プロファイリングを実現

利点：

• 電気化学処理でナノスケールの特性を調査している研究者に、フレキシブルな選択肢を提供
• 空間分解能の向上により、使いやすく、幅広い AFMおよび STM 技術が使用可能
• Veeco SECPM だけの技術が、固体/液体インターフェイスでの電気化学処理に関する基本的な考察を提供

機能＆特長：

• 先例のない精度と柔軟性を、分子生物学とナノスケール材料研究に提供
• 小型 PicoAngler ツールにより、驚くほど簡単にチップサンプル（探針－試料間）の相互作用を手動で調査可能
• 単分子フォーススペクトロスコピーで特に役立ち、カンチレバー探針を高感度でアプローチおよび収縮
• スキャナは、Z軸はクローズドループ制御で20 ミクロンレンジ、および> 40 ミクロンのX/Y走査を内蔵

機能＆特長：

• AFM と環境制御および密封試料チャンバーの組み合わせを実現
• 走査しながら、多様で複雑な環境条件に対する試料の反応の観察が可能
• 材料科学、電気化学、ポリマー技術、生命科学その他のアプリケーションに最適