アプリケーション
ライブラリ
トレーニング
会社情報
IR
ニュース&イベント
採用情報
お問い合わせ
ホーム
言語
日本語
中国語(簡体字)
韓国語
中国語(繁体字)
計測機器
原子間力顕微鏡
システム
コントローラー
モード
アクセサリー&オプション
アプリケーション
自動 AFM/AFP
システム
アプリケーション
オプティカル プロファイラ
光学干渉システム
アクセサリー&オプション
アプリケーション
共焦点顕微鏡
システム
アプリケーション
スタイラス プロファイラ
Dektak システム
アクセサリー&オプション
アプリケーション
Nanoscale World Community
ナノシアター
Veeco プローブ
エピタキシャル装置
MBE コンポーネント
自動バルブポジショナー
CBr4 ガス流量制御システム
PID 温度コントローラー付き直流(DC)電源
Gas Source Delivery System
MBE システム用成長制御&スケジュール管理ソフトウェア
成長ステージ ポジショナー
MBE るつぼ
MBE 加熱ビュー ポート
MBE リニア モーション シャッター
MBE シャッター コントローラー
MBE ソース フランジ
MBE システム ケーブル
リン回収システム(PRS)
リン バルブド クラッカー セル温度コントローラー
基板ヒーター
UNI ブロック MBE 基板ホルダー
UNI バルブ RF プラズマソース オートチューナー
アプリケーション
MBE ソース
ドーパント
高温
低温
中温
特殊製品
アプリケーション
MBE システム
GEN 研究開発 MBE システム
GEN10 自動研究開発 MBE システム
GEN20 研究開発/試作 MBE システム
GEN200 エッジ プロダクション MBE システム
GEN2000 エッジ プロダクション MBE システム
GEN930 研究開発 MBE システム
アプリケーション
MOCVD システム
D180 GaN MOCVD システム
E300 LDM MOCVDシステム
E450 As/P As/P MOCVD システム
TurboDisc E475As/P MOCVD システム
ターボディスクK465 GaN MOCVD システム
TurboDisc K465i GaN MOCVD システム
ソーラー用 TurboDisc K475 As/P MOCVD システム
アプリケーション
プロセス装置
DLC 蒸着
NEXUS DLC-X 蒸着システム
アプリケーション
イオンビーム蒸着
NEXUS IBD イオンビーム蒸着システム
NEXUS LDD-IBD イオンビーム蒸着システム
SPECTORイオンビーム蒸着システム
SPECTOR 広範囲プラネタリー イオンビーム蒸着システム
アプリケーション
イオンビーム エッチング システム
NEXUS IBE-350Seイオンビームエッチングシステム
NEXUS IBE-350Si イオンビームエッチングシステム
NEXUS IBE-420i イオンビーム エッチング システム
NEXUS IBE-420Si イオンビーム エッチング システム
NEXUS 酸化モジュール
アプリケーション
イオンソース
グリッド付き DC イオンソース
グリッド付き RF イオンソース
グリッドレス アノード イオンソース
グリッドレス エンド‐ホール イオンソース
マグネトロン
アプリケーション
PVD システム
NEXUS PVD-1 物理蒸着システム
NEXUS PVD-HR システム
NEXUS PVDi システム
NEXUS TAMR 物理蒸着システム
アプリケーション
ラッピング/ダイシング システム
Optium ADS 160 先進ダイシング システム
Optium ADS-800 先進ダイシング システム
Optium ASL 200 ラッピング システム
アプリケーション
熱蒸着ソース
PV シリーズ CIGS ソース
アプリケーション
CIGS 成膜システム
FastFlex ウェブ コーティング システム
FastLine ガラス成膜システム
アプリケーション
Solutions for a nanoscale world.™
MBE ソース
中温―システム
次の製品を表示
リソース&ラーニング
ニュース&最新情報
特集・アプリケーションノート:
における進捗:発光ダイオード向け及び高電子移動度トランジスタ向けGaN成長(PDF: 2.0 MB)
一般情報―エピタキシー
最新ニュース
:
Veeco が
5台のMBEシステムを受注
イベント予定
:
2009年8月9日~8月12日
NAMBE 2009
ニュージャージー、プリンストン大学
E ニュースレターを購読する
MBE ソース
アンモニア耐性ソース―高成長率、より効率的な制御
製品の詳細
特長
:
特別アンモニア耐性材料
アンモニア分圧1x10
-4
Torrの高さで、最高温度1350°Cまで適合
基板ヒーターおよびSUMOるつぼを追加し、さらにシステム性能を拡張可能
利点
:
アンモニア態窒素 (NH
3
)ソースの使用によ高成長率と簡単な制御
高いアンモニア分圧で使用可能
高温および高分圧で優れたパフォーマンス
SUMO るつぼで、フラックス分布を最適化、マテリアル減少の影響を最小化
酸素耐性ソース―中温での正確なMBE操作用
製品の詳細
特長
:
最高1150°C、最高酸素分圧 5 milliTorrまで適合する酸素耐性ソース
5 milliTorrの酸素分圧で使用可能な基板ヒーターのオプション
SUMOるつぼのオプションを選択可能
利点
:
幅広い酸素分圧の
MBE
環境で使用可能
成膜期間の延長およびコストの低下
ソースオプションで、性能の拡張、最適フラックス分布、およびマテリアル減少による影響の最小化が可能
ガリウムおよびインジウム用のホットリップSUMOソース―III族マテリアル蒸発用に特別設計
製品の詳細
特長
:
円筒形本体部と小型テーパー開口部付き特許るつぼ
耐熱シールドキャップ
極めて安定した動作
マルチウエハおよびシングルウエハ
MBE
システムで使用可能
利点
:
大容量のるつぼ、優れたフラックス均一性、ごく僅かなシャッター開閉の影響、および最小のマテリアル減少の影響
効率の拡大およびシステム上の熱負荷の最小化
円錐形るつぼに見られる長期間のマテリアル減少効果を削減
基板全体に渡る膜厚均一性と、優れたサンプル品質
ガリウムおよびインジウム用下向きSUMOソース―大容量、フラックス安定性と均一性を実現
製品の詳細
特長
:
デュアルフィラメントソースと非対称SUMOるつぼを結合
るつぼは、オフセットされた細い開口部とホットリップ加熱されたテーパーのある円錐形状の出口が特徴です。
浅い上向きポート用にマテリアル充填量を大幅に増加
利点
:
大容量で優れたフラックス均一性
ごく少量のシャッタ開閉によるフラックス変動と、最小化された長期間でのマテリアル減少効果
マテリアル充填容量の拡大により、
MBE
機能を拡大
基板全体に渡る優れたサンプル品質、低欠陥数および良好な膜厚均一性
アルミニウム用コールドリップSUMO―MBEのアルミニウム蒸発用に最適なソース
製品の詳細
特長
:
III族(特にAl)
MBE
材料蒸発用に特別設計
るつぼ開口部超えた広いリップ設計と、効率的なるつぼ本体加熱ができるよう配置されたヒーター/耐熱シールド
拡張リップるつぼで、コールドゾーンがさらに強化され、封じ込めも強化
利点
:
大容量の優れたフラックス均一性、ごく少量のシャッタ開閉によるフラックス変動、および長期間のマテリアル減少による影響の最小化
溶融アルミおよび窒化化合物を確実に封じ込め
優れたサンプル品質、低欠陥数、および基板全体の良好な膜厚均一性
デュアルフィラメントソース-中温でのアプリケーションに対応した最適な熱プロファイルを提供
製品の詳細
特長
:
るつぼ本体および開口部用の2つの独立したヒーターフィラメント
ソース先端部を、本体部より高温に加熱
Ga
と
In
MBE
ソースの「ホットリップ」加熱で、るつぼリップにおける再凝縮を削減
デュアルフィラメントソースは、III族の量産用るつぼを含む、SUMO および従来型るつぼの両方における使用が可能
利点
:
各種材料用の
MBE
熱プロファイルおよび充填レベルの減少に対する調整の最適化
放射熱損失を補充し、るつぼリップにおける再凝縮を防止
高品質
Ga
および
In
の化合物サンプルの成長に最適
多様な
MBE
アプリケーションに簡単に適合
シングルフィラメントソース―信頼性が高く費用効果的なMBEソース運用
製品の詳細
特長
:
50~1200°Cの範囲における
MBE
操作のための、信頼性の高いバンドサーモカップルおよびシングルヒーターフィラメント
標準フィラメントソースは、均一加熱のための、単一の均一分布フィラメントが特徴
修正フィラメントソースで、るつぼ開口部での追加加熱が可能
コールドリップシングルフィラメントソースにより、るつぼ開口部の加熱を低減可能
利点:
各種システム構造が、特別ニーズのために選択可能
標準フィラメントソースで、汎用MBEのコスト効果的ソリューションを実現
修正フィラメントソースで、Ga/In楕円形欠陥を削減可能
コールドリップソース設計は、マテリアルの溢れ出しを防止し、ソースを保護
ホーム
ライブラリ
トレーニング
会社情報
IR
ニュース&イベント
お問い合わせ
プローブ オンライン ショップ
法律上の表示、個人情報保護声明
サイトマップ
All Contents ©2010 Veeco Instruments. 無断複写・転載を禁じます。