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ハードバイアス、絶縁層およびセンサ‐スタック蒸着に最適Veeco第3世代NEXUS® イオン ビーム蒸着(IBD) システムは、80Gb/in2のセンサーの歩留まり向上と将来のTFMH デバイス製造の厳しいご要求にお答えします。 |
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詳細情報
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